產(chǎn)品時(shí)間:2024-10-29
德國*FIscher手持量規(guī)厚度儀一臺(tái)涂層厚度測(cè)量儀–多種應(yīng)用! MMS®Inspection DFT在涂層厚度測(cè)量領(lǐng)域是quan方位的。 它非常適用于鋼鐵和有色金屬上的涂層厚度測(cè)量,可廣泛應(yīng)用于各種行業(yè)。 但是,這是涂層測(cè)厚儀的特殊之處:它具有IP65防護(hù)等級(jí)的外殼,可防止灰塵和水的噴射。 即使在嚴(yán)酷的腐蝕保護(hù)等苛刻條件下,干膜厚度計(jì)也使測(cè)量變得容易。
德國*FIscher手持量規(guī)厚度儀
德國*FIscher手持量規(guī)厚度儀
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優(yōu)勢(shì)品牌:
PHOENIX備件
STEGO溫度控制系列
STAUBLI史陶比爾電氣機(jī)械接頭全系
MTM Power 模塊電源
SUCO壓力開關(guān) , EVO-PRODUCTS 吸塵器, JAGER開關(guān),
raumag閥門,KEB剎車離合器 ,VAISALA溫濕度變送器 ,ISOLOC備件
GESTRA疏水閥 ,GEMU閥 ,SIBRE制動(dòng)器 ,SCHMALZ真空發(fā)生器
BRINKMANN 泵,MTS傳感器 ,MPM水平測(cè)試儀,KUKA備件 ,schunk 抓手
Rexroth(力士樂)
德國*FIscher手持量規(guī)
一臺(tái)涂層厚度測(cè)量儀–多種應(yīng)用! MMS®Inspection DFT在涂層厚度測(cè)量領(lǐng)域是quan的。 它非常適用于鋼鐵和有色金屬上的涂層厚度測(cè)量,可廣泛應(yīng)用于各種行業(yè)。 但是,這是涂層測(cè)厚儀的特殊之處:它具有IP65防護(hù)等級(jí)的外殼,可防止灰塵和水的噴射。 即使在嚴(yán)酷的腐蝕保護(hù)等苛刻條件下,干膜厚度計(jì)也使測(cè)量變得容易。
FISCHERSCOPE® UMP 20, 40 and 100
Fischer的新產(chǎn)品UMP系列儀器為防腐行業(yè)測(cè)量壁厚提供了解決方案。 堅(jiān)固耐用的,定制的模塑外殼和凸起的橡膠按鍵滿足 IP54 防護(hù)標(biāo)準(zhǔn)。 UMP系列超聲波測(cè)厚儀有多種型號(hào),可滿足每一種預(yù)算和應(yīng)用。 儀器有很簡單的升級(jí)方法(直接通過鍵盤)添加所需的軟件功能。
儀器特性包括:圖形顯示器,多種語言顯示,振動(dòng)報(bào)警,快速小值,回波-回波測(cè)量模式可忽略表面涂層,10萬數(shù)據(jù)存儲(chǔ)輸出到 excel, B-掃描和帶波形調(diào)整的實(shí)時(shí)A-掃描。
特征
軟件功能可升級(jí)
發(fā)光按鍵易于判斷厚度達(dá)標(biāo)與否 (UMP 40 & 100)
實(shí)時(shí)波形 (UMP 40 & 100)
8-14 小時(shí)電池壽命, 2節(jié) “AA” 電池
自動(dòng)調(diào)零功能
2 點(diǎn)校準(zhǔn)
振動(dòng)報(bào)警 (UMP 40 & 100)
多種雙/單元件探頭可供選擇,包括高溫探頭可達(dá)1000° F (537° C)
回波-回波測(cè)量模式可以忽略涂層 (UMP 40 & 100)
B-掃描
正常使用情況下,主機(jī)有限2年保修
COULOSCOPE® CMS2
CMS2可以測(cè)量幾乎所有基材上金屬鍍層的厚度,包括多鍍層結(jié)構(gòu); 它的工作原理是根據(jù)陽極溶解的庫侖法 (DIN EN ISO 2177)。 簡單的操作和菜單化的操作指導(dǎo)使CMS2成為電鍍行業(yè)生產(chǎn)監(jiān)控和質(zhì)量檢驗(yàn)理想的解決方法。設(shè)備為不同的鍍層結(jié)構(gòu)配備了近100個(gè)預(yù)留的應(yīng)用程式(例如,鐵上鍍鋅,黃銅上鍍鎳), 以及各種電解速度(例如1, 2, 5, and 10 μm/min)。這些應(yīng)用程式適用于多鍍層系統(tǒng)。
COULOSCOPE® CMS2的特征
-大尺寸高分辨率的彩色顯示器
-簡單的操作和圖示的用戶指導(dǎo)
-使用V18支架實(shí)現(xiàn)半自動(dòng)化測(cè)量
-電解速度和測(cè)量面積的簡單選擇(0.1 - 50 μm/min) 和(0.6 -3.2 mm ?)
-電壓曲線圖形顯示
-圖形和統(tǒng)計(jì)分析
-多語言和計(jì)量單位可供選擇
COULOSCOPE® CMS2
STEP CMS2 STEP 的特征是STEP測(cè)試功能(同時(shí)測(cè)定厚度和電位差)。 在多層鎳的質(zhì)量監(jiān)控中用于對(duì)鍍層厚度和電位差的標(biāo)準(zhǔn)化STEP測(cè)試 (根據(jù)ASTM B764-94和DIN 50022)。鍍層厚度根據(jù)庫侖法得出, 而電位差則由一個(gè)鍍有AgCl的銀電極得到。
COULOSCOPE® CMS2 STEP的特殊功能
-同時(shí)測(cè)量鍍層厚度和電位差
-銀參比電極的簡單準(zhǔn)備
-可調(diào)節(jié)的電解電流